【问题】 X光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱可用于材料表面成分分析。

X光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱可用于材料表面成分分析。

A.正确

B.错误

正确答案:正确

题目解析:暂无解析,丰阳塔题库将尽快完善。