【问题】 在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为( )。A光学显微镜B隧道扫描显微镜C原子力显微镜D都不对
在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为( )。A光学显微镜B隧道扫描显微镜C原子力显微镜D都不对
正确答案:正确答案 C
题目解析:本题出自河南科技大学,河南科技大学现代制造技术(考查课)(专升本),由丰阳塔题库搜集整理。
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